倒置结构的设计使得XploRA INV与AFM的耦合变得很方便，可以实现拉曼-AFM联用及针尖增强拉曼光谱（TERS），使我们在样品测试过程中可以获得纳米级别的空间分辨率。

XploRA INV的开放式结构保留了常规倒置显微镜各种附件的功能和兼容性，包括显微控制器和“光镊”以及特殊的细胞应用附件等。

带显微进样器的XploRA INV样品台

XploRA INV也可与HORIBA一些独特的扫描成像附件进行耦合，如使用DuoScan专利技术进行多通道超快速光谱成像，以及使用3D快速共焦成像（FCI）模块进行超快速荧光成像，从而快速寻找样品。

该图为使用XploRA INV分析尼罗红在胚胎中的分布结果，显示了细胞中尼罗红与不同成分的结合状态。左、中和右图分别为白光图像、FCI荧光图像和高光谱共焦荧光成像。

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